PropertyValue
?:definition
  • Mikroskopi der preparatet undersøkes ved at en elektronstråle leser det av (skanner det) punkt for punkt. Bildet genereres gjennom registrering av spredningen av tilbakestrålingen fra preparatets utside. (Ved sveipelektronmikroskopi spiller preparatets tykkelse ingen rolle. Teknikken, og også instrumentet, forkortes ofte SEM.)
?:hasCUIAnnotation
?:hasGeneratedBy
?:type

Metadata

Anon_0  
<http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#type> <http://purl.org/net/provenance/ns#DataItem>
<http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#type> <http://www.w3.org/2004/03/trix/rdfg-1/Graph>
<http://xmlns.com/foaf/0.1/primaryTopic> <https://research.tib.eu/covid-19/entity/C0026020_MSHNOR>
<http://xmlns.com/foaf/0.1/topic> Anon_0
<http://www.ontologydesignpatterns.org/cp/owl/informationrealization.owl#realizes> <https://research.tib.eu/covid-19/data/entity/C0026020_MSHNOR>
<http://purl.org/net/provenance/ns#createdBy>
Anon_1   (more)
expand all