PropertyValue
?:definition
  • Mikroskopi där preparatet undersöks genom att en elektronstråle läser av det punkt för punkt. Bilden skapas genom registrering av spridningen av bakåtstrålningen från preparatytan. Vid svepelektronmikroskopi spelar preparatets tjocklek ingen roll. Tekniken, och även instrumentet, förkortas ofta SEM.
?:hasCUIAnnotation
?:hasGeneratedBy
?:type

Metadata

Anon_0  
<http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#type> <http://purl.org/net/provenance/ns#DataItem>
<http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#type> <http://www.w3.org/2004/03/trix/rdfg-1/Graph>
<http://xmlns.com/foaf/0.1/primaryTopic> <https://research.tib.eu/covid-19/entity/C0026020_MSHSWE>
<http://xmlns.com/foaf/0.1/topic> Anon_0
<http://www.ontologydesignpatterns.org/cp/owl/informationrealization.owl#realizes> <https://research.tib.eu/covid-19/data/entity/C0026020_MSHSWE>
<http://purl.org/net/provenance/ns#createdBy>
Anon_1   (more)
expand all